产品[MiniTest2100/3100/4100涂层测厚仪[产品打印页面]]资料
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产品名称: MiniTest2100/3100/4100涂层测厚仪
产品型号: MiniTest2100/3100/4100
产品展商: 北京时代公司
简单介绍
德国EPK公司MiniTest2100/3100/4100涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;所有型号均可配所有探头;可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;可使用一片或二片标准箔校准。


MiniTest2100/3100/4100涂层测厚仪的详细介绍

MiniTest2100/3100/4100涂层测厚仪|涂层测厚仪|覆层测厚仪|镀层测厚仪|漆膜测厚仪|磁性测厚仪|膜厚仪

 

 MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准。

技术特征

 

型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量

应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)

 

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

 

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

 

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

 

 

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

 

 

 

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

 

 

显示并打印测量值、打印的日期和时间

 

其他功能

设置极限值

 

 

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值

 

 

连续测量模式中测量稳定后显示读数

 

 

连续测量模式中显示最小值

 

 

 

可选探头参数

所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

 

探头

量程

低端
分辨率

误差

最小曲率半径
(凸/凹)

最小测量
区域直径

最小基
体厚度

探头尺寸




F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm